在儀器測(cè)定波長(zhǎng)名義值（589nm、 880nm、882nm）上下 10 nm 范圍內(nèi)， 對(duì)于衰減比為 10%、1%，其衰減相對(duì) 變化不超過(guò)±20%。透過(guò)率光譜中性 衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對(duì)旋光度影響 不超過(guò)儀器的最小分度示值。JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量 計(jì)》計(jì)量檢定規(guī)程要求，檢定校準(zhǔn) 自動(dòng)旋光糖量計(jì)低透過(guò)率示值誤 差和重復(fù)性時(shí)，對(duì)于確實(shí)無(wú)法采用 機(jī)械斬波低透過(guò)率模擬器時(shí)，采用 的透過(guò)率光譜中性衰減模擬器。在儀器測(cè)定波長(zhǎng)名義值（589nm、 880nm、882nm）上下 10 nm 范圍內(nèi)， 對(duì)于衰減比為 10%、1%，其衰減相對(duì) 變化不超過(guò)±20%。透過(guò)率光譜中性 衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對(duì)旋光度影響 不超過(guò)儀器的最小分度示值。JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量 計(jì)》計(jì)量檢定規(guī)程要求，檢定校準(zhǔn) 自動(dòng)旋光糖量計(jì)低透過(guò)率示值誤 差和重復(fù)性時(shí)，對(duì)于確實(shí)無(wú)法采用 機(jī)械斬波低透過(guò)率模擬器時(shí)，采用 的透過(guò)率光譜中性衰減模擬器。